产品信息
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低温恒温器
电测定用
特征
分析半导体材料
分析半导体材料中所含不纯物质的其中一种方法—DLTS法，可从极低温到室温自由控制样本温度，进行测定。此外， 还可用于其他所有方式的电测定。
细节图
标准规格
| 冷头 | HE05/UW404 | D105/SA112・SW112 |
| 达到温度 | 4K | 12K |
| 温度控制范围 | 4K to 300K ±0.2K | 12K to 300K ±0.2K |
| 安装样本尺寸 | 10×10×t1 mm | |
| 可安装样本数 | 4 | |
| 附属品 | 真空排气阀, 温控用加热器, 极低温温度计（温控用/测温用）,测定用引线, 同轴电缆 | |
