产品信息
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产品信息
低温恒温器
For Photoluminescence Measurement
特征
自由控制样本和温度
以往的光致发光解析测定，只有将硅(Si)和砷化镓(GaAs)等样本固定在一定温度才能进行测定，而使用本极低温冷却设备，可以让样本从室温到极低温范围，保持冷却状态在X・Y・Z轴方向移动测定。
标准规格
| Model | CRT-A020-S200 | CRT-C020-S200 | CRT-C010-S200 |
| Cryocooler/Compressor | HE05/UW404 | D510/SW115 | D105／SW112 |
| Ultimate Temperature | 4K | 12K | 12K |
| Temperature Controllable Range | 4K to 300K ±0.2K | 12K to 300K ±0.2K | 12K to 300K ±0.2K |
| Optical Window Dimensions | Light Inlet : φ20（mm）, Photoluminescence : φ30（mm）, Reflected Light : φ20（mm） | ||
| Sample Dimensions | 10×10×1t（mm） | ||
| Number of Samples | 3 | ||
| Accessories | Evacuation valve, Heater for temperature control, XYZ Table , Cryogenic thermometer (for temperature control / measurement), Coldhead Accessories rotation system |
||
*It may vary depending on the operating condition.
CRYOSTAT For Photoluminescence Measurement[PDF:308KB]
